測(cè)長機(jī)
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以線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度?利用機(jī)械測(cè)頭進(jìn)行接觸測(cè)量的光學(xué)長度測(cè)量工具(圖1 測(cè)長機(jī) )。 它利用讀數(shù)顯微鏡和帶有線紋尺的測(cè)量軸組成的測(cè)量系統(tǒng)(習(xí)慣上稱為阿貝頭)進(jìn)行接觸測(cè)量。阿貝頭的示值范圍一般為 100毫米。測(cè)長儀有立式和臥式兩種。它的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)一般符合阿貝原則?故通常也稱為阿貝測(cè)長儀。立式測(cè)長儀和臥式測(cè)長儀的測(cè)量范圍通常分別不大於250毫米和600毫米(測(cè)量范圍大於100毫米時(shí)需要用量塊調(diào)整零位)。前者主要用於測(cè)量外尺寸?后者主要用於測(cè)量較大工件或在立式測(cè)長儀上不易定位的工件如圓盤等的內(nèi)?外尺寸等。
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